在IC表層塗佈液晶，利用液晶遇熱轉態特性，以顯微鏡搭配偏光鏡來觀察液晶轉態熱點。
可做漏電分析。利用漏電時產生的熱，使液晶轉態達到定位漏電點；若漏電流太
小，可搭配thermo-chuck來控制樣品溫度，使微小漏電流也可使液晶轉態達到定位。
可偵測metal short、metal bridge 、 poly short 、active area short …short fail case。
可偵側chip內耗電量較大的區域。
商盟
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